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    體積表面電阻率測試儀——影響電阻測量精度的六大關鍵因素

    更新時間:2025-03-21      點擊次數:302


    影響電阻測量精度的六大關鍵因素

    因素

    影響機制

    解決方案

    測量時間

    分布電容充電時間達數十分鐘(例:電纜測試中初始阻值偏低,60s后穩定)

    設定定時測量(如GB/T 3048規定電纜測量時間60s)。

    重復測量

    殘余電荷疊加(導致二次測量阻值↑30%以上)

    測量為基準,重復測試需放電≥30分鐘。

    電壓選擇

    高電壓激活材料漏電流(1000V比100V測值低50%)

    根據標準選擇電壓(如IEC 60243規定絕緣材料測試電壓梯度1kV/mm)。

    溫度波動

    半導體反向漏電流隨溫度↑8℃翻倍(硅材料特征)。

    恒溫實驗室(±1℃),數據換算至標稱溫度(如25℃)。

    濕度干擾

    表面吸濕(濕度↑60%→表面電阻↓100倍)。

    預干燥處理(50℃烘箱2h)+實時濕度監控。

    環境電磁干擾

    電磁場感應電流(電焊機啟動時噪聲電流達10?1?A)

    雙重屏蔽室、低噪聲同軸電纜(屏蔽層接地阻抗<1Ω)。


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